行业新闻
简介 |
ELA 是我们用于电子能量损失谱 (EELS) 和四维扫描透射电子显微镜 (4D STEM) 应用的电子计数检测器。它可以检测弱反射和强反射,以实现高级衍射和成像研究,并允许快速元素映射。该探测器集成在 Gatan 4D-STEM 中。 |
像素尺寸 [μm2] |
75x75 |
传感器材料 |
硅 (Si) |
能量范围 [keV] |
30 - 200 |
帧速率 (较大) [Hz] |
2,250 (16-bit); 4,500 (8-bit) |
探测光子效率 |
0.9 at 100 kV, 0.8 at 200 kV |
核心优势 |
这种混合像素电子探测器快速而灵敏,能够在电子能量损失光谱 (EELS) 和 4D 扫描透射电子显微镜 (STEM) 中进行先进数据收集。 |
应用领域 |
-电子能量损失谱(EELS) -4D STEM |
介绍手册 |
点击阅读 ELA 介绍手册 |